Основы рентгеноструктурного анализа в материаловедении

Учебное пособие / Томск : Изд-воТом. гос. архит.-строит. ун-та, 2012. – 276 с. + 8 л. цв. вкл. ISBN 978-5-93057-457-9Кинематическая теория рассеяния рентгеновского излучения
Введение в геометрическую кристаллографию
Индицирование порошковых рентгенограмм
Прецизионное определение параметров элементарной ячейки
Качественный и количественный фазовый анализ
Полнопрофильный анализ рентгенограмм
Упражнения по полнопрофильному анализу методом РитвельдаУчебное пособие посвящено описанию основ традиционных и современных методов рентгеноструктурного анализа в материаловедении. Целью авторов было совмещение в учебном пособии разумной фундаментальности и практических методов решения конкретных научно-исследовательских и инженерно-технических материаловедческих задач. По мере возможности авторы старались показать ясность и очевидность физических явлений, которые лежат в основе рентгеноструктурных методов. Учебное пособие предназначается аспирантам, магистрантам строительных специальностей, студентам, магистрантам физических и физико-технических специальностей университетов, которые
желают освоить современные методы рентгеноструктурного анализа, изучить основы взаимодействия рентгеновского излучения с веществом и получить полное представление как о возможностях рентгеноструктурного анализа, так и методах вычислений X-ray программ полнопрофильного анализа методом Ритвельда. Пособие может быть полезно преподавателям при разработке курсов лекций для магистрантов и аспирантов кафедр материаловедения и физики.